目前，测试仪采用的测试方法是“直接功能测试”和“端口特性测试”，各项测试功能多是围绕以上两种测试方法展开的。下面以“数字IC器件在线功能测试”和“VI曲线分析测试”举例说明。
2-1.数字IC在线功能测试
wIn-Circuit Functional Test
简称：ICFT
所谓“在线”是指被测数字IC不用焊离电路板，测试仪通过专用测试夹对其进行测试。
2-2.ICFT测试的范围
w测试范围：
TTL74/54、CMOS4000/45、RAM、驱动器、8000/80000、9000/90000、HD2500、3400/34000、29000、AMD2500、俄罗斯库、西门子库、淘汰器件库等组合逻辑和时序逻辑的IC器件。
w封装类型：
可用测试夹直接测试双列直插式、表面贴装式等多种封装形式的集成IC芯片。
2-3.ICFT测试原理图
2-4.后驱动技术（back driving）
w该技术利用了半导体器件允许瞬态过载的特性，测试仪施加H或L测试信号时向被测IC芯片的输入端所在结点灌进/拉出瞬间大电流，强迫该结点电位按照测试需要变H或变L，达到为被测IC芯片在线施加测试代码的目的。
w测试时要能够提供并吸收电流，并截取结点发出的逻辑电平。
驱动电流通常被限定在标准TTL芯片工作电流的4倍范围左右，后驱动电流绝非越大越好！
2-5.自动补偿技术（auto compensation）
w测试程序一般是以器件离线状态为基准编写的，但实际电路中器件的在线状态多种多样，其在线逻辑功能往往与其离线状态不一致。
w软件仿真器能够根据器件的实际在线状态（电源、地、互连、输入、输出等）自动修正器件的驱动模式，自动产生器件在线状态下实际逻辑功能对应的测试驱动代码，实现对器件的准确测试。
即：自动修正测试驱动波形，无须人工修改程序。
2-6.自动补偿技术示例
2-7.ICFT测试的结论
w通过ICFT测试的器件功能没有问题，不能通过ICFT测试的器件不一定全都功能失效，测试过程中可能会受到在线因素的影响。
w目前“后驱动技术”和“自动补偿技术”尚无法保证在所有情况下、对所有被测试器件进行100％的成功测试。
正达测试仪采用先进的软硬件处理技术，在线测试通过率是相当高的。
2-8.ICFT测试的优势
w维修人员容易掌握，上手很快，测试效率高，测试结论明确，对TTL系列、COMS系列、驱动器系列、常用存储器系列等器件特别有效。
wICFT测试能迅速筛选出功能完好的器件，极大地缩小故障范围。比如：如果电路板上80%的器件通过了ICFT测试，那么，整个电路板的故障区域已经被大大地缩小了。
通过对被测器件的输出波形分析，并结合运用一些测试技巧，可以对不能通过ICFT测试的器件功能好坏做出进一步的甄别。
2-9.ICFT测试图例
2-10.双板数字IC在线功能测试
wIn-Circuit Functional Test Double
简称：ICFT Double
2-11.ICFT Double的测试要求
w电路测试仪的数字测试通道不少于80路。
w所有测试通道均匀一致。
w测试电源采用自动瞬间通、断方式输出。
w双测试夹可以同时独立达到ICFT测试的全部要求。
2-12.ICFT Double的测试优势
w无须对器件实际输出波形进行分析。
w增加了测试仪对隐含故障的检出率。
w大大提高了大量维修时的测试效率。
适用于：
好、坏电路板同时测试，不用事先学习，快速直接对比。
几块坏电路板同时维修，进行快速对照，故障多数判决。
对一块电路板上具有对称布局排列的器件同时快速测试。
2-13.ICFT Double测试图例
2-14.数字IC在线状态测试
wIn-Circuit State Test
简称：ICST
2-15.ICST测试作用
w事先学习好电路板上器件的信息，测试中按照“已知器件”和“未知器件”两种情况分别处理。
w状态特征包括：①各管脚的逻辑状态（电源、地、信号状态、小电阻接地或电源等）；②管脚之间的自身连接关系；③输入、输出实际响应等。
w再与故障电路板上同样位置的器件逐项比较，从而发现有故障的器件。
学习的信息库越多，电路测试仪使用效率越高。
2-16.数字IC型号识别
w型号识别可理解为是对器件的逆向测试过程。
w被识别器件应存在于测试库中，应功能完好。
w识别出的是器件功能型号，不能区分出其具体参数。例如：无法区分是74LS244还是74HC244。
2-17.ICFT其它辅助功能
w程控多电源输出；
w多电源短路保护；
w测试夹接触检查；
w测试夹自动定位；
wO.C门自动测试；
w动态总线隔离信号；
w数字IC测试库扩充系统；
w可视化电子词典及制作系统……
